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Rev Cubana Ortod 1999; 14 (1):5-6
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Editorial
El panorama de simetría. Una opción para el diagnóstico
Cuando en Noviembre de 1895 Wichelm Konrad Roentgen, profesor de Física
de la Universidad de Wurzburgu, Baviera, realizaba sus experimentos con
un tubo de Crookes (descarga eléctrica en el vacío), en busca
de rayos lumínicos invisibles, tuvo la idea de operar en una cámara
oscura y de cubrir el tubo con papel negro. Al pasar por éste, la
corriente de alta tensión, se produjo un resplandor inmediato en
la pantalla fluorescente de platinocianuro de bario que se encontraba sobre
la mesa, a cierta distancia del tubo. Al interponer objetos entre éste
y la pantalla, se proyectaron sombras sobre esta última. La experimentación
posterior con tales radiaciones, le permitió comprobar que afectaban
una emulsión fotográfica del mismo modo que la luz visible.
De numerosos experimentos dedujo que esta variación era muy diferente
de los rayos catódicos de Crookes y al no precisar la naturaleza
exacta los denominó Rx o incógnito. A partir de ese momento
se puso en manos de los profesionales de la salud, un excelente medio auxiliar
de diagnóstico, siendo el doctor Edmund Kells el primer odontólogo
que abogó por la utilización de Rayos X en la práctica
odontológica 1896.Con el decursar del tiempo y con el desarrollo
científico, fueron diseñadas diferentes películas
técnicas radiográficas intra y extraorales con objetivos
diagnósticos bien definidos y de gran utilidad en la práctica
clínica. Dentro de las radiografías extraorales de gran utilidad
en la Estomatología se encuentran las telerradiografías y
las radiografías panorámicas que, sobre todo en la especialidad
de Ortodoncia, han demostrado ser un gran auxiliar de diagnóstico.
A partir de la década de los 80 ha sido propuesto un anális
de la radiografía panorámica por la doctora Wilma A. Simoes
, denominado panorograma de simetría utilizado para el análisis
de simetría y que consiste en reunir información detallada
de ambas mitades de la radiografía panorámica y compararlas
entre sí con la finalidad de reconocer la simetría o asimetría
de las estructuras del tercio medio e inferior de la cara. Para el análisis
de simetría se utilizan puntos de referencias que unidos determinan
planos y líneas que constituyen los sistemas de referencias o planos
básicos relacionados entre sí y utilizan el sistema ortogonal
o sea, aquel cuyos planos básicos son perpendiculares entre sí
y el sistema complementario a partir de perpendiculares trazadas sobre
el sistema ortogonal.
Con los planos trazados se pueden evaluar:
-
Aspectos articulares relativos a los cóndilos, la eminencia y
el espacio articular.
-
Mandíbula, rama y cuerpo.
-
Aspectos sinusales.
-
Fosas y septum nasal.
-
Aspectos de las cavidades orbitarias.
-
Fosas ptérigo maxilares.
-
Piso medio e inferior de la cara.
-
Velocidad de erupción.
En los casos de análisis de simetría no es necesario
la medida exacta de las estructuras sino el resultado al comparar la de
un lado con el del opuesto, el margen de la diferencia no debe ser pequeño
pues hay mayor seguridad de interpretación. El análisis de
simetría de las radiografías panorámicas no tiene
valor absoluto para el diagnóstico y el plan de tratamiento, como
no lo tienen los trazados cefalométricos de las telerradiografías
de frente o de perfil.
Ninguna interpretación de trazado puede por sí sola eliminar
otros elementos de diagnóstico. En la práctica diaria, existe
la oportunidad de utilizar este proceder en los casos con malformaciones
del tercio medio e inferior de la cara, las disfunciones articulares, las
secuelas de fracturas mandibulares y otros en los cuales, nos ha servido
como auxiliar en el diagnóstico, por lo que se corrobora lo dicho
al inicio, el análisis de simetría es una opción para
el diagnóstico.
Dra. Belkis Correa Mozo
Directora
Revista Cubana de Ortodoncia